威兆半导体取得单颗晶圆检测治具专利，提高晶圆检测的可靠性

国家知识产权局的资料显示，珠海市威兆半导体有限公司成功获得了名为“一种单颗晶圆检测治具”的专利授权，其公告号为CN224419251U，申请日期是在2025年8月。该专利的摘要内容揭示，本申请属于半导体设备技术范畴，详细描述了一种单颗晶圆检测治具的结构，它由固定支座、定位支座、导向杆以及弹性件等部分构成；固定支座上设有活动槽，定位支座与活动槽相连，而导向杆则从固定支座的内部穿过活动槽和定位支座，其主要作用是支撑和引导定位支座在活动槽中的运动，弹性件则在活动槽中相对地排列在定位支座之上，其远离定位支座的一端则抵在了活动槽远离定位支座一侧的内壁上，此外，固定支座的顶部设置了工作凹台，工作凹台的一侧与活动槽的槽口相连接，定位支座上还设有与工作凹台相匹配的夹持块，该夹持块在弹性件弹性势能的作用下，会与工作凹台的侧壁接触。本申请的设计旨在提升晶圆检测的可靠性。声明：市场存在风险，投资需谨慎。此篇文章是AI基于第三方数据生成的，仅作参考，并非个人投资指引。信息来源于市场资讯。